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液晶高阻四探針測(cè)試儀四探針?lè)y(cè)試高阻值材料方阻及電阻率，可以測(cè)試到10^10Ω方阻值，液晶顯示，芯片控制，恒流輸出，四探針雙位測(cè)量、參考美國(guó)A.S.T.M標(biāo)準(zhǔn)。中或英文語(yǔ)言版本.
更新時(shí)間：2025-02-10
產(chǎn)品型號(hào)：BX-Y1220A
瀏覽量：290
液晶高阻四探針測(cè)試儀 四探針?lè)y(cè)試高阻值材料方阻及電阻率，可以測(cè)試到10^10Ω方阻值，液晶顯示，芯片控制，恒流輸出，四探針雙位測(cè)量、參考美國(guó)A.S.T.M標(biāo)準(zhǔn)。中或英文語(yǔ)言版本.
更新時(shí)間：2025-02-10產(chǎn)品型號(hào)：BX-Y1220瀏覽量：310
恒流低阻雙電四探針測(cè)試儀器四探針?lè)y(cè)試低阻材料方阻及電阻率，可以測(cè)試到1uΩ方阻值，采用芯片控制，恒流輸出，液晶顯示，自動(dòng)數(shù)據(jù)測(cè)量，系數(shù)補(bǔ)償，參考美國(guó)A.S.T.M標(biāo)準(zhǔn)。利用電流探針、電壓探針的變換，進(jìn)行兩次電測(cè)量.提供中文或英文語(yǔ)言版本.
更新時(shí)間：2025-02-10產(chǎn)品型號(hào)：BX-Y1219A瀏覽量：263
恒流低阻雙電四探針測(cè)試儀器四探針?lè)y(cè)試低阻材料方阻及電阻率，可以測(cè)試到1uΩ方阻值，采用芯片控制，恒流輸出，液晶顯示，自動(dòng)數(shù)據(jù)測(cè)量，系數(shù)補(bǔ)償，參考美國(guó)A.S.T.M標(biāo)準(zhǔn)。利用電流探針、電壓探針的變換，進(jìn)行兩次電測(cè)量.提供中文或英文語(yǔ)言版本.
更新時(shí)間：2025-02-10產(chǎn)品型號(hào)：BX-Y1219瀏覽量：353
四探針液晶電阻率測(cè)試儀是運(yùn)用直線或方形四探針雙位測(cè)量。該儀器設(shè)計(jì)參考國(guó)標(biāo)單晶硅物理測(cè)試方法及A.S.T.M標(biāo)準(zhǔn)。利用電流探針、電壓探針的變換，進(jìn)行兩次電測(cè)量，對(duì)數(shù)據(jù)進(jìn)行雙電測(cè)分析，解決樣品幾何尺寸、邊界效應(yīng)以及探針不等距和機(jī)械游移等因素對(duì)測(cè)量結(jié)果的影響.
更新時(shí)間：2025-02-10產(chǎn)品型號(hào)：BX-Y1218A瀏覽量：399
四探針?lè)阶桦娮杪蕼y(cè)試儀用于：覆蓋膜;導(dǎo)電高分子膜，高、低溫電熱膜;隔熱、導(dǎo)電窗膜導(dǎo)電(屏蔽)布、裝飾膜、裝飾紙;金屬化標(biāo)簽、合金類箔膜;熔煉、燒結(jié)、濺射、涂覆、涂布層，電阻式、電容式觸屏薄膜;電極涂料，其他半導(dǎo)體材料、薄膜材料方阻測(cè)試等相關(guān)產(chǎn)品
更新時(shí)間：2025-02-10產(chǎn)品型號(hào)：BX-Y1218瀏覽量：285
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